3D Metrology assisted by Image Processing
发布日期:2023-02-27  字号:   【打印

报告时间:2023年3月1日(星期三)9:00-11:00

报告地点科技楼236会议室

:程方 教授

工作单位:北京理工大学

举办单位:仪器科学与光电工程学院、测量理论与精密仪器安徽省重点实验室

报告简介

Image processing, with its well-structured data format and versatile available tools, has become one of the most mature area of AI applications. Images, as a data format, is becoming more popular in inspection data storage in various areas, such as thermal imaging, ultrasonic imaging, etc. In this report, the presenter will share his work in 3D metrology, using image formatted data for information acquisition and analysis, which was traditionally done with electronic approaches. In this presentation, displacement encoders and interferometric sensors developed with imaging techniques will also be discussed.

报告人简介

程方,目前担任新加坡先进再制造技术中心研发副总监,南洋理工大学讲座教授,博士生导师。程方2010年毕业于合肥工业大学,取得博士学位。2010-2013年间先后在台湾大学和新加坡南洋理工大学从事博士后研究工作。2013年加入新加坡先进再制造技术中心,先后担任研究员,部门主管和研发副总监。程方博士的研究方向为表面计量技术、机器视觉、在线三维测量等。

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