报告时间：2023年7月10日（星期一）9:00-11:30
报告地点：机械楼513教室
报 告 人：Jianbiao Pan 教授
工作单位：加州州立大学北岭分校
举办单位：机械工程学院
报告简介：
This seminar will introduce reliability concepts, reliability testing, and design for reliability. Reliability terminologies include reliability functions, failure function, failure rate, MTTF and bath tub curve. Reliability testing methods include Accelerated life tests, Highly Accelerated Life Testing (HALT), Reliability growth testing, Reliability qualification/demonstration testing, Product reliability acceptance testing (PRAT), Stress testing (ESS, HASS, Burn-in), and Combined environment reliability testing (CERT). Real world examples of design for reliability using acceleration factor models will be presented.
报告人简介：
Jianbiao Pan教授在清华大学获得制造工程硕士学位，在美国宾夕法尼亚州伯利恒利哈伊大学获得工业工程博士学位。Pan教授是加州州立大学北岭分校（CSUN）制造系统工程与管理系（MSEM）教授兼系主任，也是加州理工大学圣路易斯奥比斯波分校工业与制造工程系（IME）教授。在加入加州理工大学之前，他曾在朗讯科技/Agere系统公司担任技术人员。潘教授的研究方向是材料、工艺、热管理以及微电子和电子封装的可靠性。他撰写或合著了50多篇技术论文；曾担任美国国家科学基金会、国防部和工业界资助的25个研究项目的首席或联合首席研究员。Pan教授于2022年获得国际微电子组装与封装学会（IMAPS）颁发的技术成就奖，2018年获得加州理工大学工程学院颁发的雷神卓越教学与应用研究奖，2011年获得IMAPS颁发的杰出教育者奖，2004年获得制造工程师协会颁发的杰出青年制造工程师奖。Pan教授自2012年起担任《微电子与电子封装杂志》主编，2011年至2018年担任《IEEE组件、封装和制造技术汇刊》副主编。此外，他还是IMAPS的资深会员、是IEEE、ASQ和SME的高级成员。